测试和测量能力是设计和制造高质量耳机和音频系统的基础。我们的测试能力全面而深入，配备了业内最先进的设备和方法。凭借Klippel等精确分析工具提供的清晰见解，我们的工程师可以为您设计和制造性能卓越、一致性更高、开发速度更快、成本效益更高的产品。

核心测试和测量能力：

✔ 全参数分析系统：用于测量线性参数（如T/S参数）、大信号参数、总谐波失真（THD）、互调失真（IMD）、温升特性、阻抗曲线、功率容限、最大输出声压（受失真或压缩阈值限制）和功率响应等。
✔ 近场扫描系统：一种革命性的工具，用于测量耳机系统的三维声辐射特性。测量在用户定义的网格上围绕被测设备自动完成。然后，软件分析和合成每个点的数据，并外推以计算任何指定距离的远场声场。该工具对于评估入耳式耳机和耳挂式耳机等产品的性能特别有效，这些产品的轴向测量不能完全反映实际的聆听体验。
✔ 专业的小部件测试解决方案：对于微型扬声器和麦克风等小型传感器，我们有专门的测试环境和方法来分离空气和纯机械力学的影响，从而获得组件更基本的性能参数。
✔ 高速全检设备：在嘈杂的生产环境中，高速自动化测试台可以100%检测到有缺陷的单元（如磨损的环、异常声音和各种其他缺陷），确保产品出厂的一致性。